使您能夠在產品出廠前快速了解產品的質量

檢測各種製造缺陷，包括 BGA、QFN 和 IGBT 連接、PTH 填充、電纜和連接器質量以及假冒元件篩選。

 

快速發現缺陷

• 使用 QuadraNT® X 射線管技術查看小至 2 μm 的缺陷。2 μm 是檢測到鍵合線存在與詳細查看它之間的差異。
• 強大的自動檢測程序可為批量電路板節省大量時間。對例程進行一次編程，然後只需單擊即可開始。

 

使用方便

• 專為 Quadra® 系列 X 射線檢測系統開發的 Gensys® 檢測軟件使操作員和臨時用戶能夠快速、輕鬆地進行質量檢測，並且只需最少的培訓
• 來自我們專有 AspireFP® 檢測器的實時圖像反饋使您能夠輕鬆導航樣品并快速識別缺陷。
• 輕鬆確保 IPC-A-610 和 IPC-7095 符合用於尺寸測量、BGA 空隙分析、凸點直徑和圓度以及通孔填充的內置工具。

 

超緊湊的佔地面積

• 電路板尺寸和系統佔用空間的完美平衡。
• 佔地面積小，選址和安裝快捷方便。
• 從每一面檢查電路闆對於發現枕頭缺陷、觀察元件開裂和清楚地看到 PTH 焊料填充水平非常重要。我們獨特的雙斜檢測器幾何結構可從每一面檢測 300 x 300 毫米的板，而無需限制尺寸的旋轉台。

Explorer one介紹了EnviroShield™技術，這是我們專有的（正在申請專利）無鉛 X 射線屏蔽技術，無毒且易於在使用壽命結束時處理。我們希望 Explorer one 中的 EnviroShield 將幫助我們轉移數百噸鉛在未來的使用。

影片

 

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